Контрольная «Причины систематической составляющей погрешности измерений» по Метрологии (Позняк Е. С.)

Кирилл Николоев ср, 30.03.2016 20:51

Министерство образования и науки Российской Федерации Московский Государственный Университет Печати Контрольная работа По дисциплине: «Метрология, стандартизация и сертификация» Выполнила:

Студентка ФПТиТ ЗТПП 4-1 Бякова М.В. Проверил: Преподаватель МГУП Москва -2010- Содержание 1. Причины систематической составляющей погрешности измерений 3 2. Задача 10 Список использованных источников 14

1. Причины систематической составляющей погрешности измерений Систематические погрешности искажают результат измерений наиболее существенно. Поэтому обнаружению и исключению систематических погрешностей придается большое значение. По источнику происхождения различают систематические погрешности, Обусловленные:

свойствами средства измерений; отклонением условий измерений от нормальных условий; несовершенством метода измерений; неточностью действий оператора. Рассмотрим эти составляющие систематической погрешности измерений.

1. Систематические погрешности, обусловленные свойствами средства измерений и отклонением условий измерений от нормальных условий Сумму этих погрешностей часто называют инструментальной погрешностью измерений. Как правило, инструментальная погрешность вносит основной вклад в погрешность результата измерений. Систематическая погрешность определяется классом точности, влиянием СИ на результат и ограниченной разрешающей способности СИ.

2, Нормируемые метрологические характеристики средств измерений При разработке методики измерений следует выбрать СИ, гарантирующее необходимую точность измерений. Однако особенность всех перечисленных погрешностей, кроме первой, состоит в том, что они связаны не только со свойствами СИ, но и с условиями измерений. Поэтому в процессе разработки этой методики следует оценить инструментальную составляющую погрешности измерений в заданных условиях измерений. В связи с этим при разработке любого СИ формируют и указывают в эксплуатационной документации технологические характеристики особого вида, называемые метрологическими характеристиками (свойства СИ, влияющие на погрешности намерений, называются метрологическими свойствами, а характеристики этих свойств — метрологическими характеристиками СИ. Методология формирования, установленная этим стандартом, исходит из следующего.

Нормируемые метрологические характеристики необходимы для решения двух основных задач: контроля каждого экземпляра СИ на соответствие установленным нормам, определения результатов измерений и априорного оценивания инструментальной погрешности измерения.

При этом следует иметь в виду, что метрологические свойства каждого конкретного экземпляра СИ в определенный момент времени постоянны, но по совокупности СИ данного типа они изменяются случайным образом. Это происходит вследствие рассеивания технологических параметров при изготовлении СИ, различия условий эксплуатации, приводящего к случайному характеру процессов износа и старения его элементов, случайной погрешности измерений при периодических калибровках СИ и других аналогичных причин. Поэтому теоретически возможны нормируемые метрологические характеристики двух видов. К характеристикам первого вида, почти исключительно применяемым на практике, относятся пределы допускаемых значений метрологических характеристик СИ данного типа. Их используют как при контроле годности каждого экземпляра СИ, так и для оценки максимально возможной инструментальной погрешности измерения. К характеристикам второго вида, применяемым крайне редко, относятся математическое ожидание и СКО значений метрологической характеристики, вычисленные по совокупности СИ данного типа, пригодные для оценивания инструментальной погрешности измерений методом статистического суммирования.

Скачать файлы

Похожие документы